Hvordan kan jeg løpe pt etter tørrfilmtykkelse

H

HolySaint

Guest
jeg setter scanchains i netto dc skrev ut,

men når jeg kjører pt er det brudd på sdff som er DFF i dc netlist,

Hvordan kan jeg satt til å endre dette?

 
ljxpjpjljx skrev:

Du bør endre regelen for å tilpasse det!
 
HolySaint skrev:

jeg setter scanchains i netto dc skrev ut,men når jeg kjører pt er det brudd på sdff som er DFF i dc netlist,Hvordan kan jeg satt til å endre dette?
 
Ja, du må analyse som kandidat føre disse overgrepene.Og kanskje du bør gjøre DFT modus STA.

santhosh007 skrev:HolySaint skrev:

jeg setter scanchains i netto dc skrev ut,men når jeg kjører pt er det brudd på sdff som er DFF i dc netlist,Hvordan kan jeg satt til å endre dette?
 
Hello Friend,

Når u setter DFT for design, vil design har 2 moduser.En er Funksjonell Mode og andre er Test-modus.

Nå, spørsmålet urself først på hvilken modus u vil utføre STA?

Hvis STA er på Functional modus, bare deaktivere Test-modus ved å sette saken analyse på den respektive testen pins (scan_enable, scan_mode pinner) som aktiverer / deaktiverer Testing.

Sunil Budumuru

 
Hvis STA er på Functional modus, bare deaktivere Test-modus ved å sette saken analyse på den respektive testen pins (scan_enable, scan_mode pinner) som aktiverer / deaktiverer Testing.Jeg gjør det som u fortalte meg
men det er flere brudd som i analysen dc netlist (i bruk pt)

hvorfor?

 
HolySaint skrev:

Hvis STA er på Functional modus, bare deaktivere Test-modus ved å sette saken analyse på den respektive testen pins (scan_enable, scan_mode pinner) som aktiverer / deaktiverer Testing.Jeg gjør det som u fortalte meg

men det er flere brudd som i analysen dc netlist (i bruk pt)hvorfor?
 
WayneF skrev:HolySaint skrev:

Hvis STA er på Functional modus, bare deaktivere Test-modus ved å sette saken analyse på den respektive testen pins (scan_enable, scan_mode pinner) som aktiverer / deaktiverer Testing.Jeg gjør det som u fortalte meg

men det er flere brudd som i analysen dc netlist (i bruk pt)hvorfor?
 
Hei venn,

Sorry for sent svar.

Poeng å merke seg:
1.I stedet for å gi valget til DFT verktøyet for å velge det tilsvarende SCAN floppen, du manuelt velger (ved å gi i skriptet) "set_scan_replacement".
Her intelligent valg av skanningen flops er viktigere.På denne måten får du best timing Clouser.
Se tidspunktet characterstics av SDFFRHQX1?Sjekk den normale floppen som var der tidligere og erstatte med tilsvarende SCAN floppen instad av SDFFRHQX1 skanne floppen.
Jeg antar U've fikk det jeg prøver å si.

2.Likevel problemer, la meg vite ..vi kan legge en annen løsning.

-Sunil Budumuru

 
Takk for all den personen som hjalp meg.
U hjelpe meg å løse problemet.

 

Welcome to EDABoard.com

Sponsor

Back
Top