Z
zhonghan
Guest
PIN-1 og PIN 2 er involvert i denne testen, som pin er 2000v lavere enn andre?
Det er viktig for å fastsette feilen banen.
Det er viktig for å fastsette feilen banen.
Navigation
Install the app
How to install the app on iOS
Follow along with the video below to see how to install our site as a web app on your home screen.
Note: This feature may not be available in some browsers.
More options
You are using an out of date browser. It may not display this or other websites correctly.
You should upgrade or use an alternative browser.
You should upgrade or use an alternative browser.
E
ESDSolutions
Guest
Hi zhonghan
Ifølge denne figuren:-2kV (negative zappe) brukes på pin 1 med pin 2 på bakken.
Ifølge tall (grønn referanse linje) var det frem diode fra pin 1 til pin 2 og enkelte element på motsatt stress saken (strøm klemme, lokale klemme eller diode opp strøm klemme).
Så dette kan være (eksempel) pin 1 er en bakken og pin 2 er en IO eller en strømforsyning.Deretter pin 1 er stresset med-2kV HBM som betyr at strømmen klemme eller lokale klemme utløses under stress tilfelle.Stresset har ført til en kortslutning svikt (rød linje).
Gi meg beskjed hvis du ønsker å dele mer informasjon for å avklare nærmere.
ES
Ifølge denne figuren:-2kV (negative zappe) brukes på pin 1 med pin 2 på bakken.
Ifølge tall (grønn referanse linje) var det frem diode fra pin 1 til pin 2 og enkelte element på motsatt stress saken (strøm klemme, lokale klemme eller diode opp strøm klemme).
Så dette kan være (eksempel) pin 1 er en bakken og pin 2 er en IO eller en strømforsyning.Deretter pin 1 er stresset med-2kV HBM som betyr at strømmen klemme eller lokale klemme utløses under stress tilfelle.Stresset har ført til en kortslutning svikt (rød linje).
Gi meg beskjed hvis du ønsker å dele mer informasjon for å avklare nærmere.
ES
Z
zhonghan
Guest
ok, her er mer detaljert info: Det er en Bipolar prosessen, Pin 2 er koblet til underlaget, spenningen av pin 1 er alltid lavere enn pin 2 (dvs. underlaget spenningen ikke er den laveste spenning på sjetong).Nedenfor er de viktigste del av kretsløpet mellom pin 1 og pin 2.Jeg håper du vil gi meg mer opplysning om feil.
Beklager, men du må logge inn for å vise dette vedlegget
Beklager, men du må logge inn for å vise dette vedlegget
S
srftech
Guest
Hi zhonghan,
Så i realiteten er det ikke mye å gå på her.Bildet er fra en gammel Zapmaster det ser ut.
Den grønne linjen er det pre-ESD-stresset kurve sporingsflagg viser at før ESD testing, pin 1 hadde en meget sterk fremover partisk diode (med VT = ~ 0.7V) til en referanse node for positive spenninger, (hvis referansen noden ble pin 2, ingenting i den skjematiske står for den sterke diode ... så jeg lurer på om det er noen parasitic kryss knyttet til enheter som ikke forklares av skjemaet.)
... og en veldig resistive, muligens serierekke diode banen til referanse node for negative spenninger.
Hva pin ble brukt som referanse for kurven sporingsflagg ... det kan ikke ha vært pin 2.
Den røde kurven er en kurve spor etter ESD-stress, og viser en resistive mislykkes (men ikke spesifisere hvis kurven sporingsflagg var mellom pin1 og 2 eller pin 1 og enkelte andre bakken ... som teller også fordi det forteller oss i hvilken node er pin 1 shorted ... og definitivt shorted til noe.
Annet enn at bilde ikke fortelle mye (annet enn før og etter stress kurver ... men ingenting om hva som skjedde under svikt) og skjematisk er ikke så nyttig uten mer forståelse av prosessen.
Jeg vil foreslå TLP å studere svikt, FA hvis mulig og du må ta en vanskelig se på både parasitic kryss av enhetene kobles mellom pinne 1 og 2, samt som shorted å Pin 1 som vist med den røde linjen (med andre ord hva pin ble brukt som referanse for kurve tracing pin 1 ... husker det kanskje ikke er pin 2).
Dette vil være en start.
Excellence in ESD og IO Design
Så i realiteten er det ikke mye å gå på her.Bildet er fra en gammel Zapmaster det ser ut.
Den grønne linjen er det pre-ESD-stresset kurve sporingsflagg viser at før ESD testing, pin 1 hadde en meget sterk fremover partisk diode (med VT = ~ 0.7V) til en referanse node for positive spenninger, (hvis referansen noden ble pin 2, ingenting i den skjematiske står for den sterke diode ... så jeg lurer på om det er noen parasitic kryss knyttet til enheter som ikke forklares av skjemaet.)
... og en veldig resistive, muligens serierekke diode banen til referanse node for negative spenninger.
Hva pin ble brukt som referanse for kurven sporingsflagg ... det kan ikke ha vært pin 2.
Den røde kurven er en kurve spor etter ESD-stress, og viser en resistive mislykkes (men ikke spesifisere hvis kurven sporingsflagg var mellom pin1 og 2 eller pin 1 og enkelte andre bakken ... som teller også fordi det forteller oss i hvilken node er pin 1 shorted ... og definitivt shorted til noe.
Annet enn at bilde ikke fortelle mye (annet enn før og etter stress kurver ... men ingenting om hva som skjedde under svikt) og skjematisk er ikke så nyttig uten mer forståelse av prosessen.
Jeg vil foreslå TLP å studere svikt, FA hvis mulig og du må ta en vanskelig se på både parasitic kryss av enhetene kobles mellom pinne 1 og 2, samt som shorted å Pin 1 som vist med den røde linjen (med andre ord hva pin ble brukt som referanse for kurve tracing pin 1 ... husker det kanskje ikke er pin 2).
Dette vil være en start.
Excellence in ESD og IO Design